Full-wave models for analyzing thick screens in printed structures
2003
Détails
Titre
Full-wave models for analyzing thick screens in printed structures
Auteur(s)
Mosig, J. R. ; Llorens del Rio, D.
Publié dans
III Encuentro Iberico de Electromagnetismo Computacional
Pages
1-4
Date
2003
Laboratoires
LEMA
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > IEM - Institute of Electrical and Micro Engineering > LEMA - Laboratoire d'électromagnétisme et antennes
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
Date de création de la notice
2006-11-30