A High Fault-Coverage Design-for-Testability Approach for a MIMD Based Multimedia Processor
1997
Détails
Titre
A High Fault-Coverage Design-for-Testability Approach for a MIMD Based Multimedia Processor
Auteur(s)
Gumm, M. ; Brocci, M. ; Mombers, F.
Publié dans
European Design & Test Conference and Exhibition, Paris La Defense
Date
1997
Editeur
Berlin, IEEE
Mots-clés (libres)
Laboratoires
LTS
SCI-STI-MM
SCI-STI-MM
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > IEM - Institute of Electrical and Micro Engineering > SCI-STI-MM - Groupe SCI STI MM
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > STI Archives > LTS - Laboratoire de traitement des signaux
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
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Publié
Date de création de la notice
2006-06-14