Characterization of microstructures by x-ray microdiffraction and topography
1984
Détails
Titre
Characterization of microstructures by x-ray microdiffraction and topography
Auteur(s)
Rappaz, M. ; Kaspar, M. ; Blank, E. ; Andersen, N. H.
Publié dans
Microstructural Characterization of Materials by Non-microscopical Techniques
Pages
443
Date
1984
Editeur
Denmark, Riso Int. Conf.
Laboratoires
LSMX
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > STI Archives > LSMX - Laboratoire de simulation des matériaux
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
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Date de création de la notice
2005-11-22