Caractérisation d'alliages dendritiques biphasés par topographie rayons X et diffractométrie rayons X
1982
Détails
Titre
Caractérisation d'alliages dendritiques biphasés par topographie rayons X et diffractométrie rayons X
Auteur(s)
Rappaz, M. ; Blank, E.
Publié dans
Helvetica Physica Acta
Volume
55
Pages
163
Date
1982
Laboratoires
LSMX
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > STI Archives > LSMX - Laboratoire de simulation des matériaux
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
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Date de création de la notice
2005-11-22