Robust and Fault-Tolerant Circuit Design for Nanometer-Scale Devices and Single-Electron Transistors


Présenté à:
2004 IEEE International Symposium on Circuits and Systems, Vancouver, BC, May 2004
Année
2004
Note:
2004 IEEE International Symposium on Circuits and Systems, Vancouver, BC, May 2004
Laboratoires:




 Notice créée le 2005-08-30, modifiée le 2018-03-17

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