On-Chip Self-Calibrating Communication Techniques Robust to Electrical Parameter Variations
2004
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Détails
Titre
On-Chip Self-Calibrating Communication Techniques Robust to Electrical Parameter Variations
Auteur(s)
Worm, Frédéric ; Ienne, Paolo ; Thiran, Patrick ; De Micheli, Giovanni
Publié dans
IEEE Design and Test of Computers
Volume
21
Numéro
6
Pages
524-35
Date
2004
Mots-clés (libres)
Autres identifiant(s)
DAR: 5953
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Production scientifique et compétences > I&C - Faculté Informatique & Communications > IINFCOM > LSI1 - Laboratoire des systèmes intégrés 1 (STI/IC)
Production scientifique et compétences > I&C - Faculté Informatique & Communications > IINFCOM > LAP - Laboratoire d'architecture de processeurs
Publications validées par des pairs
Travail produit à l'EPFL
Articles de journaux
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Date de création de la notice
2005-08-08