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Détails
Titre
Caracterization and reliability of thin dielectrics and MOSFETs
Auteur(s)
Okhonin, Serguei
Directeur(s)
Pagination
91
Date
2002
Editeur
Lausanne, EPFL
Langue
Anglais
Laboratoires
LEG1
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > STI Archives > LEG1 - Laboratoire d'électronique générale 1
Production scientifique et compétences > Thèses EPFL
Travail produit à l'EPFL
Publié
Thèses
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Date de création de la notice
2005-03-16