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Détails
Titre
Hot electron degradation in short-channel MOS transistors
Auteur(s)
Acovic, Alexandre
Directeur(s)
Pagination
220
Date
1990
Editeur
Lausanne, EPFL
Langue
Anglais
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > Thèses EPFL
Travail produit à l'EPFL
Publié
Thèses
Travail produit à l'EPFL
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Date de création de la notice
2005-03-16