Thermo-refractive noise in silicon nitride microresonators
2019
Résumé
Thermodynamic noises limit the frequency stability of resonators. Here, we present the first complete characterization of thermo-refractive noise in Si3N4 microresonators. The measurements are in good agreement with theoretical analysis and FEM simulation of the structures. (c) 2019 The Author(s)
Détails
Titre
Thermo-refractive noise in silicon nitride microresonators
Auteur(s)
Huang, Guanhao ; Lucas, Erwan ; Liu, Junqiu ; Raja, Arslan S. ; Lihachev, Grigory ; Gorodetsky, Michael L. ; Engelsen, Nils J. ; Kippenberg, Tobias J.
Publié dans
2019 Conference On Lasers And Electro-Optics (Cleo)
Série
Conference on Lasers and Electro-Optics
Présenté à
Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO), May 05-10, 2019, San Jose, CA
Date
2019-01-01
Editeur
New York, IEEE
ISSN
2160-9020
ISBN
978-1-943580-57-6
Autres identifiant(s)
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Laboratoires
LPQM
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > IEM - Institute of Electrical and Micro Engineering > LPQM - Laboratoire de photonique et mesures quantiques (STI/SB)
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > IPHYS - Institut de physique > LPQM - Laboratoire de photonique et mesures quantiques (STI/SB)
Publications validées par des pairs
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > IPHYS - Institut de physique > LPQM - Laboratoire de photonique et mesures quantiques (STI/SB)
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Travail produit à l'EPFL
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Date de création de la notice
2019-09-11