1/f Noise in Fully Integrated Electrolytically Gated FinFETs with Fin Width Down to 20nm


Editeur(s):
Enz, Christian
Présenté à:
25th International Conference on Noise and Fluctuations (ICNF 2019), EPFL Neuchâtel campus - Neuchâtel, Switzerland, 18 - 21 June 2019
Année
2019
Laboratoires:




 Notice créée le 2019-08-21, modifiée le 2019-09-04

Fichiers:
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