Large area scanning thermal microscopy and infrared imaging system
2019
Fichiers
Détails
Titre
Large area scanning thermal microscopy and infrared imaging system
Auteur(s)
Martinek, Jan ; Valtr, Miroslav ; Hortvík, Václav ; Grolich, Petr ; Briand, Danick ; Shaker, Marjan ; Klapetek, Petr
Publié dans
Measurement Science and Technology
Volume
30
Numéro
3
Pages
035010
Date
2019-02-14
Note
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Autres identifiant(s)
DOI: https://doi.org/10.1088/1361-6501/aafa96
Laboratoires
LMTS
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Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > IEM - Institute of Electrical and Micro Engineering > LMTS - Laboratoire des microsystèmes souples
Production scientifique et compétences > Partenaires EPFL > Campus Neuchâtel > LMTS - Laboratoire des Microsystèmes Souples
Publications validées par des pairs
Travail hors EPFL
Articles de journaux
Publié
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Date de création de la notice
2019-06-23