Nanoscale thermal imaging of active devices by fluorescent SThM
2017
Détails
Titre
Nanoscale thermal imaging of active devices by fluorescent SThM
Auteur(s)
Lin, H.J. ; Assy, A. ; Lemaire, Etienne Pierre ; Briand, Danick ; Billot, L. ; Gredin, P. ; Mortier, M. ; Aigouy, L.
Publié dans
IEEE proceedings of the 23rd International Workshop Thermal Investigations of ICs and Systems
Pagination
4 p.
Présenté à
23rd International Workshop Thermal Investigations of ICs and Systems (Therminics), Amsterdam, The Netherlands, September 26-29, 2017
Date
2017-12-25
Editeur
IEEE
Laboratoires
LMTS
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > IEM - Institute of Electrical and Micro Engineering > LMTS - Laboratoire des microsystèmes souples
Production scientifique et compétences > Partenaires EPFL > Campus Neuchâtel > LMTS - Laboratoire des Microsystèmes Souples
Publications validées par des pairs
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
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Date de création de la notice
2018-04-02