Measurement of biased graphene stacks at terahertz: dynamic reconfiguration and hysteresis
2014
Détails
Titre
Measurement of biased graphene stacks at terahertz: dynamic reconfiguration and hysteresis
Auteur(s)
Gomez-Diaz, Juan Sebastian ; Moldova, C. ; Capdevilla, S. ; Bernard, L. S. ; Romeu, J. ; Ionescu, Mihai Adrian ; Magrez, Arnaud ; Perruisseau-Carrier, Julien
Présenté à
8th European Conference on Antennas and Propagation (EuCAP), The Hague, The Netherlands, April, 6-11, 2014
Date
2014
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Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > IEM - Institute of Electrical and Micro Engineering > NANOLAB - Laboratoire des dispositifs nanoélectroniques
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > IEM - Institute of Electrical and Micro Engineering > LEMA - Laboratoire d'électromagnétisme et antennes
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > STI Archives > MNWAVE - Adaptive Micronano Wave Systems
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > SB Archives > LPMC - Laboratoire de physique de la matière complexe
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
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Travail produit à l'EPFL
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Date de création de la notice
2015-08-11