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> Free surface effects in TEM imaging of dislocation lines and loops in Fe
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Free surface effects in TEM imaging of dislocation lines and loops in Fe
Wu, Wenwang
;
Hébert, Cécile
Directeur(s):
Hébert, Cécile
Année
2014
Publisher:
Lausanne, EPFL
Mots-clefs:
transmission electron microscopy
;
diffraction contrast image
;
image stress effect
;
anisotropy
;
dislocation loop
;
column approximation
;
CUFOUR
;
Schaeublin-Stadelmann equations
DOI:
10.5075/epfl-thesis-6262
Autres identifiants:
urn: urn:nbn:ch:bel-epfl-thesis6262-7
Laboratoires:
LSME
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Production scientifique et compétences
>
SB - Faculté des sciences de base
>
IPHYS - Institut de physique
>
LSME - Laboratoire de spectrométrie et microscopie électronique
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Thèses de doctorat
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