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Free surface effects in TEM imaging of dislocation lines and loops in Fe

Wu, Wenwang ; Hébert, Cécile

Directeur(s):
Hébert, Cécile
Année
2014
Publisher:
Lausanne, EPFL
Mots-clefs:
transmission electron microscopy ; diffraction contrast image ; image stress effect ; anisotropy ; dislocation loop ; column approximation ; CUFOUR ; Schaeublin-Stadelmann equations
DOI:
10.5075/epfl-thesis-6262
Autres identifiants:
urn: urn:nbn:ch:bel-epfl-thesis6262-7
Laboratoires:
LSME

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Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > IPHYS - Institut de physique > LSME - Laboratoire de spectrométrie et microscopie électronique
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Travail produit à l'EPFL
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Thèses



 Notice créée le 2014-06-11, modifiée le 2019-03-16

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