Electrical Conductance of molecular junctions by a robust statistical analysis
2006
Fichiers
Détails
Titre
Electrical Conductance of molecular junctions by a robust statistical analysis
Auteur(s)
González, M. T. ; Wu, S. ; Huber, R. ; van der Molen, S. J. ; Schönenberger, C. ; Calame, M.
Publié dans
Nano letters
Volume
6
Pages
2238-2242
Date
2006
Editeur
American Chemical Society
ISSN
1530-6984
Laboratoires
IMT
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > STI Archives > IMT - Institut de Microtechnique
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Date de création de la notice
2010-03-07