Surface roughness parameters measurements by Digital Holographic Microscopy (DHM)
2006
Détails
Titre
Surface roughness parameters measurements by Digital Holographic Microscopy (DHM)
Auteur(s)
Montfort, Frédéric ; Emery, Yves ; Solanas, E. ; Cuche, Etienne ; Aspert, Nicolas ; Marquet, Pierre ; Joris, Claude ; Kühn, Jonas ; Depeursinge, Christian
Publié dans
Proceedings of the International Symposium on Precision Mechanical Measurements
Présenté à
International Symposium on Precision Mechanical Measurements, Urumqi, August 2-6, 2006
Date
2006
Mots-clés (libres)
Laboratoires
LOA
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > STI Archives > LOA - Laboratoire d'optique appliquée Prof. Salathé
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
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Publié
Date de création de la notice
2009-08-03