Sub-Nanometer Resolution over Several Microns Range with Real-Time Dual- Wavelength Digital Holographic Microscopy
2008
Résumé
Single-acquisition dual-wavelength digital holographic microscopy provides real-time phase measurement range over several microns. We demonstrate axial resolution enhancement down to sub-nanometer range thanks to the non- correlation between both available wavefronts.
Détails
Titre
Sub-Nanometer Resolution over Several Microns Range with Real-Time Dual- Wavelength Digital Holographic Microscopy
Auteur(s)
Kühn, Jonas ; Colomb, Tristan ; Pache, Christophe ; Charrière, Florian ; Depeursinge, Christian
Publié dans
Digital Holography and Three-Dimensional Imaging
Pages
DTuC2
Présenté à
Digital Holography and Three-Dimensional Imaging, St. Petersburg, Florida, March 16, 2009
Date
2008
Editeur
OSA
Mots-clés (libres)
Laboratoires
LOA
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > STI Archives > LOA - Laboratoire d'optique appliquée Prof. Salathé
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
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Date de création de la notice
2009-07-20