Technological and Scientific challenges of Atomic Force Microscopy on Mars
2003
Détails
Titre
Technological and Scientific challenges of Atomic Force Microscopy on Mars
Auteur(s)
Gautsch, S. ; Staufer, U. ; Akiyama, T. ; Hidber, H.-R. ; Tonin, A. ; Howald, L. ; Müller, D. ; de Rooij, N. F.
Publié dans
4th International Symposium on MEMS and Nanotechnology
Date
2003
Laboratoires
SAMLAB
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > STI Archives > SAMLAB - Laboratoire de capteurs, actuateurs et microsystèmes
Travail hors EPFL
Papiers de conférence
Publié
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Date de création de la notice
2009-05-12