Atomic force microscope for planetary applications
2000
Détails
Titre
Atomic force microscope for planetary applications
Auteur(s)
Gautsch, S. ; Akiyama, T. ; de Rooij, N. F. ; Staufer, U. ; Niedermann, P. ; Howald, L. ; Müller, D. ; Tonin, A. ; Hidber, H.-R. ; Pike, W. T. ; Hecht, M. H.
Publié dans
Solid-State Sensor and Actuator Workshop
Pages
267-270
Date
2000
Laboratoires
SAMLAB
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > STI Archives > SAMLAB - Laboratoire de capteurs, actuateurs et microsystèmes
Travail hors EPFL
Papiers de conférence
Publié
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Date de création de la notice
2009-05-12