Novel Dynamic Scanning Microscope Probe and its Application to Local Electrical Measurement in an Ion Sensitive Field Effect Transistor
2004
Détails
Titre
Novel Dynamic Scanning Microscope Probe and its Application to Local Electrical Measurement in an Ion Sensitive Field Effect Transistor
Auteur(s)
Akiyama, T. ; Suter, K. ; de Rooij, N. F. ; Staufer, U.
Publié dans
Materials Research Society Symposium Fall Meeting
Pages
011.1.1-011.1.6
Date
2004
Laboratoires
SAMLAB
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > STI Archives > SAMLAB - Laboratoire de capteurs, actuateurs et microsystèmes
Travail hors EPFL
Papiers de conférence
Publié
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Date de création de la notice
2009-05-12