High-accuracy distance measurement with multiple-wavelength interferometry
1995
Détails
Titre
High-accuracy distance measurement with multiple-wavelength interferometry
Auteur(s)
Dändliker, R. ; Hug, K. ; Politch, J. ; Zimmermann, E.
Publié dans
Optical Engineering
Volume
34
Pages
2407-2412
Date
1995
Laboratoires
OPT
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > STI Archives > OPT - Laboratoire d'optique appliquée
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Date de création de la notice
2009-04-22