Optical Reflectometry with Micrometer Resolution for the Investigation of Integrated Optical-Devices
1989
Détails
Titre
Optical Reflectometry with Micrometer Resolution for the Investigation of Integrated Optical-Devices
Auteur(s)
Beaud, P. ; Schutz, J. ; Hodel, W. ; Weber, H. P. ; Gilgen, H. H. ; Salathe, R. P.
Publié dans
Ieee Journal of Quantum Electronics
Volume
25
Numéro
4
Pages
755-759
Date
1989
Laboratoires
LOA
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > STI Archives > LOA - Laboratoire d'optique appliquée Prof. Salathé
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Date de création de la notice
2009-01-20