Influence of ELMs on Edge Temperature and Density Profiles in TCV
2005
Fichiers
Détails
Titre
Influence of ELMs on Edge Temperature and Density Profiles in TCV
Auteur(s)
Alfier, A. ; Behn, R. ; Nielsen, P. ; Pasqualotto, R. ; Zhuang, G. ; Martin, Y. ; Schombourg, K.
Présenté à
32nd EPS Conference on Plasma Physics, Tarragona, Spain, 27 June 2005
Date
2005
Lien supplémentaire
URL
Laboratoires
CRPP
SPC
SPC
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > SPC - Swiss Plasma Center > SPC - Swiss Plasma Center
Publications validées par des pairs
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
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Date de création de la notice
2008-05-13