New Method for Temperature-Dependent Thermal Resistance and Capacitance Accurate Extraction in DMOS Transistors
2003
Détails
Titre
New Method for Temperature-Dependent Thermal Resistance and Capacitance Accurate Extraction in DMOS Transistors
Auteur(s)
Anghel, C. ; Hefyene, N. ; Gillon, R. ; Tack, M. ; Declercq, M. J. ; Ionescu, A. M.
Publié dans
IEEE International Electron Devices Meeting 2003
Pages
5.6.1-5.6.4
Date
2003
Laboratoires
NANOLAB
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > IEM - Institute of Electrical and Micro Engineering > NANOLAB - Laboratoire des dispositifs nanoélectroniques
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
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Travail produit à l'EPFL
Publié
Date de création de la notice
2007-10-10