Caractérisation de couches épitaxiées par microscopie électronique à transmission sur coins clivés
1990
Details
Title
Caractérisation de couches épitaxiées par microscopie électronique à transmission sur coins clivés
Author(s)
Buffat, PA ; Ganière, JD ; Spycher, R
Published in
Le Vide, Les Couches Minces
Volume
45
Pages
131-132
Date
1990
Laboratories
CIME
Record Appears in
Scientific production and competences > SB - School of Basic Sciences > CIME - Interdisciplinary Center for Electron Microscopy
Peer-reviewed publications
Work produced at EPFL
Journal Articles
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Record creation date
2007-02-15