Probenhalter für tieftemperatur - in situ - verformungsversuche in einem 200 kV - Durchstrahlungs-Rasterelektronenmikroskop


Year:
1979
Publisher:
Réunion de la Soc. Suisse de Phys.
Laboratories:




 Record created 2007-02-15, last modified 2018-03-17


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