Probenhalter für tieftemperatur - in situ - verformungsversuche in einem 200 kV - Durchstrahlungs-Rasterelektronenmikroskop
1979
Détails
Titre
Probenhalter für tieftemperatur - in situ - verformungsversuche in einem 200 kV - Durchstrahlungs-Rasterelektronenmikroskop
Auteur(s)
Gotthardt, R ; Buffat, PA
Présenté à
Réunion de la Soc. Suisse de Phys.
Date
1979
Laboratoires
CIME
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
Publications validées par des pairs
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
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Publié
Date de création de la notice
2007-02-15