Gotthardt, RBuffat, PA2007-02-152007-02-152007-02-151979https://infoscience.epfl.ch/handle/20.500.14299/2571Probenhalter für tieftemperatur - in situ - verformungsversuche in einem 200 kV - Durchstrahlungs-Rasterelektronenmikroskoptext::conference output::conference paper not in proceedings