Maeder, ThomasRyser, Peter2006-06-222006-06-222006-06-222002https://infoscience.epfl.ch/handle/20.500.14299/231977Ce travail présente les résultats de mesure sur des capteurs de force à poutre (cantilever), réalisés en technologie des couches épaisses et assemblés par brasure tendre Sn-Ag (Sn96). Les phénomènes de relaxation de la brasure tendre entraînent une dérive du signal de sortie des capteurs. Les résultats sont discutés en fonction de la procédure de brasage et des paramètres géométriques des capteurs (dimensions de la poutre et placement des résistances de mesure), et des recommandations pour la conception de ces capteurs sont données.technologie des couches epaissesthick-film technologytechnologie hybridecapteurs force déplacementbrasage brasurefluage relaxationEffet des interconnexions brasées sur le signal de capteurs de force réalisés en technologie des couches épaissestext::conference output::conference proceedings::conference paper