Maeder, Thomas2016-08-152016-08-152016-08-152016https://infoscience.epfl.ch/handle/20.500.14299/128572Mesure et ajustement de résistances reliées triangulairement (fig. 1), sans système de garde – bases de calcul, aussi utiles pour la détermination des résistances individuelles d'un pont de mesure / de Wheatstone (fig. 2). Bemessung und Trimm von in Dreieck angeschlossenen Widerständen (Abb. 1), ohne Guarding – Berechnungsbasis, auch für die Bestimmung der individuellen Widerständen von einer Messbrücke/ Wheatstone-Brücke nützlich (Abb. 2) Measurement and adjustment of resistors in a triangular configuration (fig. 1), without guarding – formulae, useful as well for the determination of individual resistors of a measurement / Wheatstone bridge (fig. 2).couches épaissesthick-film technologyrésistanceresistorrésistance en couche épaissethick-film resistorrésistance en couche mincethin-film resistorajustement laserlaser trimmingboucle ferméeclosed looptrianglepont de WheatstoneWheatstone bridgedécompositiondecompositiontext::report