Defect structure in micropillars using X-ray microdiffraction
2006
Détails
Titre
Defect structure in micropillars using X-ray microdiffraction
Auteur(s)
Maass, R. ; Grolimund, D. ; Van Petegem, S. ; Willimann, M. ; Jensen, M. ; Van Swygenhoven, H. ; Lehnert, T. ; Gijs, M.A.M. ; Volkert, C.A. ; Lilleodden, E.T. ; Schwaiger, R.
Publié dans
Applied Physics Letters
Volume
89
Pages
151905
Date
2006
Autres identifiant(s)
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Laboratoires
LMIS2
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > IEM - Institute of Electrical and Micro Engineering > LMIS2 - Laboratoire de microsystèmes 2
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Travail produit à l'EPFL
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Date de création de la notice
2006-12-19