Résumé
Photoelectron spectromicroscopy, the combination of conventional photoelectron spectroscopy and high lateral resolution, is a novel technique that exploits the high brightness of the most recent synchrotron sources. We briefly review its main implementation modes and present some examples of applications, with particular emphasis on semiconductor interface research.
Détails
Titre
Photoelectron microscopy and its applications to semiconductor science
Auteur(s)
Margaritondo, G.
Publié dans
Japanese Journal of Applied Physics Part 1-Regular Papers Short Notes & Review Papers
Volume
38
Pages
8-13
Date
1999
ISSN
0021-4922
Mots-clés (libres)
Note
Ecole Polytech Fed Lausanne, Inst Phys Appl, CH-1015 Lausanne, Switzerland. Sincrotrone Trieste, Trieste, Italy. Margaritondo, G, Ecole Polytech Fed Lausanne, Inst Phys Appl, CH-1015 Lausanne, Switzerland.
ISI Document Delivery No.: 240AT
Suppl. 1
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Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > SB Archives > LPRX - Laboratoire de physique des rayons X
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Travail produit à l'EPFL
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Date de création de la notice
2006-10-03