New Results from Maximum an X-Ray-Scanning Photoemission Microscope
1993
Détails
Titre
New Results from Maximum an X-Ray-Scanning Photoemission Microscope
Auteur(s)
Ng, W. ; Raychaudhuri, A. K. ; Liang, S. ; Welnak, J. ; Wallace, J. ; Singh, S. ; Capasso, C. ; Cerrina, F. ; Margaritondo, G. ; Underwood, J. H. ; Kortright, J. B. ; Perera, R. C. C.
Publié dans
Soft X-Ray Microscopy
Série
Proceedings of the Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (Spie), 1741
Pages
296-305
Présenté à
CONF ON SOFT X-RAY MICROSCOPY, SAN DIEGO, CA, JUL 19-21, 1992
Date
1993
Editeur
Spie - Int Soc Optical Engineering
Note
ISI Document Delivery No.: BX93Q
Proceedings Paper
SOC PHOTO OPT INSTRUMENTAT ENGINEERS
Proceedings Paper
SOC PHOTO OPT INSTRUMENTAT ENGINEERS
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > SB Archives > LSE - Laboratoire de spectroscopie électronique
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > SB Archives > LPRX - Laboratoire de physique des rayons X
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
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Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
Date de création de la notice
2006-10-03