The Surface Core-Level Shifts in Synchrotron Radiation Photoemission Spectra as a Probe of Semiconductor Interface Morphology
1985
Détails
Titre
The Surface Core-Level Shifts in Synchrotron Radiation Photoemission Spectra as a Probe of Semiconductor Interface Morphology
Auteur(s)
Daniels, R. R. ; Margaritondo, G. ; Cerrina, F.
Publié dans
Journal of Vacuum Science & Technology a-Vacuum Surfaces and Films
Volume
3
Numéro
3
Pages
976-977
Date
1985
ISSN
0734-2101
Note
Univ wisconsin,dept phys,madison,wi 53706. univ wisconsin,dept elect & comp engn,madison,wi 53706.
ISI Document Delivery No.: AKX49
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Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > SB Archives > LSE - Laboratoire de spectroscopie électronique
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > SB Archives > LPRX - Laboratoire de physique des rayons X
Publications validées par des pairs
Travail produit à l'EPFL
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Date de création de la notice
2006-10-03