Scanning Tunneling Microscopy and Potentiometry on a Semiconductor Heterojunction
1987
Détails
Titre
Scanning Tunneling Microscopy and Potentiometry on a Semiconductor Heterojunction
Auteur(s)
Muralt, P. ; Meier, H. ; Pohl, D. W. ; Salemink, H. W. M.
Publié dans
Applied Physics Letters
Volume
50
Numéro
19
Pages
1352-1354
Date
1987
ISSN
0003-6951
Note
Ibm Corp,Div Res,Zurich Res Lab,Ch-8803 Ruschlikon,Switzerland
H1808
Cited References Count:5
H1808
Cited References Count:5
Laboratoires
LC
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > STI Archives > LC - Laboratoire de céramique
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Travail produit à l'EPFL
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Date de création de la notice
2006-08-21