3D Position Measurement under Microscope using Pattern Matching
1998
Détails
Titre
3D Position Measurement under Microscope using Pattern Matching
Auteur(s)
Boillat, P. ; Sulzmann, A. ; Jacot, J.
Publié dans
Bulletin de l'Association Suisse de Microtechnique (ASMT/SGMT)
Numéro
22
Date
1998
Mots-clés (libres)
Laboratoires
LPM
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > STI Archives > LPM - Laboratoire de production microtechnique
Publications validées par des pairs
Travail produit à l'EPFL
Articles de journaux
Publié
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Date de création de la notice
2006-06-22