Détails
Titre
Quality metric design: A closer look
Auteur(s)
Winkler, S.
Publié dans
Proc. SPIE Human Vision and Electronic Imaging Conference
Série
SPIE Proceedings, 3959
Pages
37-44
Date
2000
Editeur
SPIE
Mots-clés (libres)
Autres identifiant(s)
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Laboratoires
LTS
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > STI Archives > LTS - Laboratoire de traitement des signaux
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
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Publié
Date de création de la notice
2006-06-14