Résumé
The geometry of a modern imaging diffractometer is discussed in detail. A method to find all relevant instrument parameters from the control single-crystal measurement data is proposed and the limitations of such a procedure are indicated. Optimization of the instrument parameters by the least-squares method is presented. [References: 19]
Détails
Titre
On the geometry of a modern imaging diffractometer
Auteur(s)
Paciorek, W. A. ; Meyer, M. ; Chapuis, G.
Publié dans
Acta Crystallographica - Section A - Foundations of Crystallography
Volume
55
Numéro
3
Pages
543-557
Date
1999
Mots-clés (libres)
Note
May 1
Laboratoires
LCR
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > IPHYS - Institut de physique > LCR - Laboratoire de cristallographie
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Travail produit à l'EPFL
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Date de création de la notice
2006-03-07