Optical properties of tin-doped indium oxide determined by spectroscopic ellipsometry
1996
Détails
Titre
Optical properties of tin-doped indium oxide determined by spectroscopic ellipsometry
Auteur(s)
Gerfin, Tobias ; Gratzel, Michael
Publié dans
Journal of Applied Physics
Volume
79
Numéro
3
Pages
1722-9
Date
1996
Autres identifiant(s)
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Laboratoires
LPI
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > ISIC - Institut des sciences et ingénierie chimiques > LPI - Laboratoire de photonique et interfaces
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Date de création de la notice
2006-02-21