Aspects of cleavage fracture of brittle semiconductors from the nanometer to the centimeter scale
2004
Détails
Titre
Aspects of cleavage fracture of brittle semiconductors from the nanometer to the centimeter scale
Auteur(s)
Ballif, C. ; Wasmer, K. ; Gassilloud, R. ; Suthues, J. ; Rabe, R. ; Pouvreau, C. ; Breguet, J.-M. ; Solletti, J.-M. ; Karimi, A. ; Schulz, D. ; Michler, J.
Présenté à
Nanofair 2004, St- Gallen, Switzerland, 14-16 September
Date
2004
Mots-clés (libres)
Laboratoires
LSRO
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > IEM - Institute of Electrical and Micro Engineering > LSRO - Laboratoire de systèmes robotiques
Publications validées par des pairs
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
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Publié
Date de création de la notice
2006-02-02