Spiking Neuron Circuit Using Single-Electron Tunneling Device with Fault-Tolerant Architecture
2004
Détails
Titre
Spiking Neuron Circuit Using Single-Electron Tunneling Device with Fault-Tolerant Architecture
Auteur(s)
Oya, Takahide ; Schmid, Alexandre ; Asai, Tetsuya ; Leblebici, Yusuf ; Amemiya, Yoshihito
Présenté à
IEICE Technical Report, Japanese Society for Neuron Computing
Date
2004
Laboratoires
LSM
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > IEM - Institute of Electrical and Micro Engineering > LSM - Laboratoire de systèmes microélectroniques
Publications validées par des pairs
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
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Travail produit à l'EPFL
Publié
Date de création de la notice
2005-11-21