On the Fault-Tolerance of a Clustered Single-Electron Neural Network for Differential Enhancement
2005
Détails
Titre
On the Fault-Tolerance of a Clustered Single-Electron Neural Network for Differential Enhancement
Auteur(s)
Oya, Takahide ; Schmid, Alexandre ; Asai, Tetsuya ; Leblebici, Yusuf ; Amemiya, Yoshihito
Publié dans
IEICE Electronics Express
Volume
2
Numéro
3
Pages
76-80
Date
2005
Autres identifiant(s)
DAR: 9037
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Laboratoires
LSM
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > IEM - Institute of Electrical and Micro Engineering > LSM - Laboratoire de systèmes microélectroniques
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Travail produit à l'EPFL
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Date de création de la notice
2005-11-21