Robust and Fault-Tolerant Circuit Design for Nanometer-Scale Devices and Single-Electron Transistors
2004
Fichiers
Détails
Titre
Robust and Fault-Tolerant Circuit Design for Nanometer-Scale Devices and Single-Electron Transistors
Auteur(s)
Schmid, A. ; Leblebici, Y.
Publié dans
2004 IEEE International Symposium on Circuits and Systems
Volume
3
Pages
685-688
Présenté à
2004 IEEE International Symposium on Circuits and Systems, Vancouver, BC, May 2004
Date
2004
Autres identifiant(s)
Afficher la publication dans Web of Science
Laboratoires
LSM
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > IEM - Institute of Electrical and Micro Engineering > LSM - Laboratoire de systèmes microélectroniques
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
Date de création de la notice
2005-08-30