Détails
Titre
FNSIM: A Functional Fault Simulator for Efficient Testability Analysis
Auteur(s)
Ienne, Paolo
Date
1992
Editeur
Lausanne, Switzerland
Laboratoires
LAP
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > I&C - Faculté Informatique & Communications > IINFCOM > LAP - Laboratoire d'architecture de processeurs
Travail produit à l'EPFL
Rapports techniques
Publié
Travail produit à l'EPFL
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Date de création de la notice
2005-08-08