Synchrotron X-ray PhotoElectron Emission spectroMicroscopy (X-PEEM): new avenues for the microchemical analysis of liquids, superconductors and minerals
2004
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Détails
Titre
Synchrotron X-ray PhotoElectron Emission spectroMicroscopy (X-PEEM): new avenues for the microchemical analysis of liquids, superconductors and minerals
Auteur(s)
Frazer, Bradley
Directeur(s)
Pagination
135
Date
2004
Editeur
Lausanne, EPFL
Langue
Anglais
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > Thèses EPFL
Travail produit à l'EPFL
Publié
Thèses
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Date de création de la notice
2005-03-16