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Thesis

Caracterization and reliability of thin dielectrics and MOSFETs

    Thèse École polytechnique fédérale de Lausanne EPFL, n° 2494 (2001)
    Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur
    Institut de génie électrique et électronique
    Laboratoire d'électronique générale 1
    Jury: Alexandre Acovic, Guido Groesenecken, Marc Ilegems, Philippe Robert

    Public defense: 2001-12-14

    Reference

    Record created on 2005-03-16, modified on 2016-08-08

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