Mechanisms of internal stress evolution and defect formation in thermosets during processing
1999
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Détails
Titre
Mechanisms of internal stress evolution and defect formation in thermosets during processing
Auteur(s)
Eom, Yong Sung
Directeur(s)
Pagination
173
Date
1999
Editeur
Lausanne, EPFL
Langue
Anglais
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > Thèses EPFL
Travail produit à l'EPFL
Publié
Thèses
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Date de création de la notice
2005-03-16