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Defects and growth processes at ionic and oxide crystal surfaces studied by atomic force microscopy
Menck, Alexander
1998
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Détails
Titre
Defects and growth processes at ionic and oxide crystal surfaces studied by atomic force microscopy
Auteur(s)
Menck, Alexander
Directeur(s)
Kern, Klaus
Pagination
117
Date
1998
Editeur
Lausanne, EPFL
Langue
Anglais
DOI
https://doi.org/10.5075/epfl-thesis-1811
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences
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Thèses EPFL
Travail produit à l'EPFL
Publié
Thèses
Date de création de la notice
2005-03-16