Caractérisation d'interfaces par microscopie électronique à transmission: Application au titanate de plomb et aux semi-conducteurs III-V
1991
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Détails
Titre
Caractérisation d'interfaces par microscopie électronique à transmission: Application au titanate de plomb et aux semi-conducteurs III-V
Auteur(s)
Spycher, Roland
Directeur(s)
Pagination
180
Date
1991
Editeur
Lausanne, EPFL
Langue
Français
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > Thèses EPFL
Travail produit à l'EPFL
Publié
Thèses
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Date de création de la notice
2005-03-16