Caractérisation d'interfaces par microscopie électronique à transmission: Application au titanate de plomb et aux semi-conducteurs III-V
1991
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Details
Title
Caractérisation d'interfaces par microscopie électronique à transmission: Application au titanate de plomb et aux semi-conducteurs III-V
Author(s)
Spycher, Roland
Advisor(s)
Pagination
180
Date
1991
Publisher
Lausanne, EPFL
Language
French
Record Appears in
Scientific production and competences > EPFL Theses
Work produced at EPFL
Published
Theses
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Record creation date
2005-03-16